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教育・研究業績
大澤 直樹(オオサワ ナオキ/OSAWA NAOKI)

業績区分 会議発表論文 − 国際会議録(プロシーディング)
プレゼン資料 なし

タイトル 日本語  
英語 Pressure Dependence of Interfacial Breakdown between Two Solid Dielectrics: Effects of Environmental Humidity While Assembling and Interfacial Angle
著者 共著

 氏名役割
1日本語増井 秀好 
英語MASUI HIDETAKA 
2日本語大澤 直樹 
英語OSAWA NAOKI 
3日本語吉岡 芳夫 
英語YOSHIOKA YOSHIO 
4日本語柳瀬 博雅 
英語YANASE HIRONORI 
5日本語岡本 健次 
英語OKAMOTO KENJI 

 
誌名 日本語  
英語 the 2017 IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena (CEIDP)
   
出版者 日本語  
英語 IEEE, DEIS
出版年月 2017年 10月 24日
研究範囲 基礎的研究
査読の有無 厳格な査読
招待の有無 通常論文
記述言語 英語
掲載区分 海外
掲載種別 研究論文(国際会議プロシーディングス)
ISSN  
ID:DOI  
ID:NAID(CiNiiのID)  
ID:PMID  
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URL  
概要 日本語  
英語 In this paper, we investigated the effects of environmental relative humidity while assembling of a test piece, the distance between the electrode and interface length to the breakdown strength under non-uniform AC electric field. As the result, we found that the tangential AC breakdown strength is not influenced by the distance between electrodes and the interface length.
キーワード 日本語 英語
  solid-gas Interface breakdown phenomena
AC breakdown voltage
breakdown electric field strength
non-uniform electric field distribution
effect of applied pressure
effect of interface angle